Puentes Conde GM, Molina Salazar J, Sifuentes de La Hoya E. Sistema de prueba eléctrica In-Circuit integrado con interfaz directa y técnicas de aprendizaje automáticos. Mem. Científ. y Tecnol. [Internet]. 30 de septiembre de 2025 [citado 10 de diciembre de 2025];4(2):109-10. Disponible en: http://148.210.21.18/ojs/index.php/memoriascyt/article/view/7298