Puentes Conde, G. M., Molina Salazar, J. . y Sifuentes de la Hoya, E. . (2026) «Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático : 11CP26-2», Memorias Científicas y Tecnológicas, 5(4), pp. 8–9. Disponible en: http://148.210.21.18/ojs/index.php/memoriascyt/article/view/7821 (Accedido: 13 septiembre 2026).