Puentes Conde, G. M., Molina Salazar, J. y Sifuentes de La Hoya, E. (2025) «Sistema de prueba eléctrica In-Circuit integrado con interfaz directa y técnicas de aprendizaje automáticos», Memorias Científicas y Tecnológicas, 4(2), pp. 109–110. Disponible en: http://148.210.21.18/ojs/index.php/memoriascyt/article/view/7298 (Accedido: 10 diciembre 2025).