Sistema de prueba eléctrica In-Circuit integrado con interfaz directa y técnicas de aprendizaje automáticos - Puentes Conde, Geu Misael; Molina Salazar, Javier; Sifuentes de La Hoya, Ernesto (Memorias Científicas y Tecnológicas, 2025)
El trabajo plantea el desarrollo de un sistema compacto de prueba eléctrica In-Circuit (ICT), orientado a la medición precisa y eficiente de parámetros eléctricos como resistencia, capacitancia e inductancia, con aplicaciones directas en la industria electrónica. La propuesta incorpora el uso de circuitos de interfaz directa como una alternativa tecnológica novedosa, complementada con algoritmos de aprendizaje automático que buscan optimizar el proceso de medición. Con ello, se pretende aportar al ámbito de la instrumentación electrónica, ofreciendo opciones innovadoras para los equipos de ICT. Asimismo, se proyecta que este sistema teórico-experimental reduzca los tiempos de medición sin sacrificar resolución, precisión, exactitud ni linealidad en comparación con las soluciones actuales.