Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático : 9CP25-4

Geu Misael Puentes; Javier Molina; Ernesto Sifuentes

In-circuit electrical test system with direct interface and machine learning algorithms

9CP25-4

Authors

Geu Misael Puentes Universidad Autónoma de Ciudad Juárez https://orcid.org/0000-0002-9118-0072
Javier Molina Universidad Autónoma de Ciudad Juárez https://orcid.org/0000-0001-6551-3112
Ernesto Sifuentes Universidad Autónoma de Ciudad Juárez https://orcid.org/0000-0003-1739-3317

Keywords:

in-circuit test, direct interface circuits, machine learning

Author Biographies

Geu Misael Puentes, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Doctorado en Tecnología, Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Javier Molina, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Professor-researcher, Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Ernesto Sifuentes, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Professor-researcher, Departamento de Ingeniería Eléctrica y Computación, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

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Published

2025-06-02

How to Cite

[1]

G. M. Puentes, J. Molina, and E. Sifuentes, “In-circuit electrical test system with direct interface and machine learning algorithms : 9CP25-4”, Mem. Científ. y Tecnol., vol. 4, no. 1, p. 11, Jun. 2025.

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Issue

Vol. 4 No. 1 (2025): May 2025

Section

9th IIT Postgraduate Colloquium