Desarrollo de un plan de prueba para pruebas de vida acelerada en el sensor knock - Díaz Reza, José Roberto; Rodríguez Borbón, Manuel Iván; Molina Arredondo, Rey David; Romero López, Roberto (Cultura Científica y Tecnológica, 2016)
La falta de pruebas de vida acelerada en las empresas conlleva a que se presenten problemas de garantía de los productos, Continental Juárez Planta I no es la excepción, ya que presenta problemas de garantía en sensores knock debido a la incertidumbre del tiempo de vida estos. En este trabajo se pretende desarrollar un plan de prueba para pruebas de vida acelerada para los sensores que permita estimar el tiempo de vida garantizado por el fabricante mediante el uso de herramientas estadísticas que definan el estrés que afecta al sensor, así como también los niveles de prueba del estrés, posteriormente calcular el tamaño de muestra y calcular los percentiles de interés. Para realizar las pruebas en los sensores y de esta manera obtener los datos para el análisis, se utilizará una cámara para pruebas de vida acelerada. Asimismo, el análisis se realizara con la utilización de los softwares: Minitab 16, ALTA 9, R y Matlab. Finalmente, el análisis de los datos del plan de prueba se desarrollará con el fin de reducir las fallas en los sensores, las devoluciones por producto, establecer tiempos de garantía convenientes e impactar en los gastos por garantía en los que incurre la empresa.